目次

第1分室
1 透過型電子顕微鏡

2 走査型電子顕微鏡

3 凍結試料作製装置

4 蒸着装置

5 走査電子顕微鏡用試料乾燥装置

6 超薄切片作製装置

7 フリーズエッチング装置

HOMEへ


   電子顕微鏡関連機器(第1分室 )
 

1 透過型電子顕微鏡 

   微細構造の研究に利用する。

  (1)日立製作所製   H-7650 (3Dトモグラフィー機能付)
   (HITACHI Electron Microscope Model H-7650)
   平成21年12月購入
   分解能:粒子像 0.36nm
   直接倍率:50〜600,000×
   加速電圧:40〜120kv

  (2)日立製作所製   H-7100S
   (HITACHI Electron Microscope Model H-7100S)
   平成4年3月購入
   分解能:粒子像 0.45nm
   直接倍率:50〜600,000×
   加速電圧:10〜125kv
   
 

2 走査型電子顕微鏡 

 表面の微細構造の研究に利用する。

   (1)日立製作所製   S-4800型 (透過・走査型X線元素分析付)
   (HITACHI Scanning Electron Microscope Model S-4800)
   平成21年12月購入
   分解能:1.0nm
   加速電圧:0.5〜30kv
   直接倍率:20〜800,000×
   付属装置:X線元素分析装置

   (2)日立製作所製   S-900型
   (HITACHI Scanning Electron Microscope Model S-900)
   平成元年3月購入
   分解能:0.7nm
   加速電圧:1〜30kv
   直接倍率:100〜800,000×
   付属装置:デジタル画像取込装置

   (3)日立製作所製   S-3200N型
   (HITACHI Scanning Electron Microscope Model S-3200N)
   平成22年9月産学官融合センターより移設(平成7年購入)
   分解能:3.5nm
   加速電圧:0.3〜30kv
   直接倍率:20〜300,000×
    特徴:Degital Natural SEM

   (4)日立製作所製   S-2300型
   (HITACHI Scanning Electron Microscope Model S-2300)
   平成元年3月購入
   分解能:4.5nm
   加速電圧:0.5〜25kv
   直接倍率:20〜200,000×
    付属装置:デジタル画像取込装置
 
 

3 凍結試料作製装置 

 凍結超薄切削、置換乾燥、氷包理、金属圧着法で試料を急速凍結する。
    
   (1)ウルトラミクロトーム
   (REICHERT ULTRACUT S )
    平成4年3月購入

   (2)クライオセクショニングシステム
   (REICHERT FC-4)
      平成4年3月購入

   (3)急速凍結装置
    (REICHERT製 KF-80形)
   平成6年3月購入

     (4)急速凍結装置
     (盟和商事製  QF-5000-LH型)
   昭和63年2月購入

   (5)クライオトランスファーホルダー
   クライオミクロトームで切削した切片を凍結状態のまま電子顕微鏡へ移送して観察する。
   (GATAN製 626形)
   平成6年3月購入

   (6)凍結置換装置
   最小量の置換液で多数の試料処理や、包理から重合まで自動温度制御が行える。
   (REICHERT製 AFS形)
   平成6年3月購入
 
 

4 蒸着装置 

 電子顕微鏡用試料に対して、親水処理、金属コーテイング、支持膜の補強などを行う。
   
   (1)真空蒸着装置
      (サンユー電子製  SVC-700TM型)
   平成22年6月購入

   (2)真空蒸着装置
      (日本電子製  JEE-400型)
   試料回転傾斜装置付属
   平成6年3月購入

   (3)イオンスパッター装置
      (日立製作所製 E-1030)
   平成元年3月購入

   (4)イオンスパッター装置
      (ポラロン社(英国)製  E5400型)
   昭和58年11月購入
   附属品:膜圧計  E5500型
   (Film Thickness Monitor Model E5500)

   (5)イオンスパッター装置
      (エイコー製  IB-3型)
   昭和51年5月購入

   (6)オスミウムコーター
      (真空デバイス製  HPC-1S型)
   平成17年9月購入
 
 

5 走査電子顕微鏡用試料乾燥装置 

 通常の乾燥法で生ずる微細構造の変形を除くことができる。

   (1)臨界点乾燥装置
    (日立製作所製  HCP-2型)
    昭和59年3月購入

   (2)tーブチルアルコール凍結乾燥器 
      (エイコーエンジニアリング製  ID-2型)
    平成元年11月購入
 
 
 
6 超薄切片作成装置
 
 透過電子顕微鏡用試料の超薄切片を作製する。

 (1)ウルトラミクロトーム
  (REICHERT ULTRACUT E )
  昭和62年12月購入

 (2)ウルトラミクロトーム
  (LEICA EM UC7A)
  平成21年12月購入

 
 

7 フリーズエッチング装置

  (1)凍結試料処理装置  
   フリーズレプリカ、フリーズエッチング、凍結割断等の電子顕微鏡用試料の作製が行える。
   エイコーエンジニアリング製FD-2A 型
  ( EIKO Freeze Speciment Processing Device Model FD-2A )   
     昭和56年7月購入